Item type |
デフォルトアイテムタイプ(フル)(1) |
公開日 |
2007-04-18 |
タイトル |
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タイトル |
Schwoebel effect and dynamic scaling behavior in nickel film growth by electrodeposition |
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言語 |
en |
作成者 |
Saitou, Masatoshi
Chinen, T
Odo, Y
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アクセス権 |
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アクセス権 |
open access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
nickel electrodeposition |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Schwoebel effect |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
growth exponent |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
AFM |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
dynamic scaling |
内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Two kinds of growth rate of nickel films prepared by electrodeposition were measured by use of columnar photoresists formed on indium-tin oxide (ITO) glass plates. The ratio of the mean growth rate at the edge to that of the nickel layer was 1.5, which indicates direct evidence for the Schwoebel effect [R.L. Schwoebel, J. Appl. Phys. 40 (1969) 614]; i.e., the presence of anisotropy between the up and down step incorporation probabilities of adatoms. The growth exponent of 0.3 was obtained from atomic force microscopy (AFM) images of the nickel film surface. This suggests that the nickel growth by electrodeposition has a dynamic scaling property. |
内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
論文 |
出版者 |
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出版者 |
Elsevier Science S.A. |
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言語 |
en |
言語 |
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言語 |
eng |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
出版タイプ |
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出版タイプ |
AM |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa |
識別子 |
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識別子 |
http://hdl.handle.net/20.500.12000/391 |
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識別子タイプ |
HDL |
関連情報 |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.sciencedirect.com/science/journal/02578972 |
関連情報 |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
10.1016/S0257-8972(99)00253-4 |
収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0257-8972 |
収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA10652003 |
収録物名 |
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収録物名 |
Surface & Coatings Technology |
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言語 |
en |
書誌情報 |
巻 115,
号 2-3,
p. 282-284,
発行日 1999-07-18
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