| Item type |
デフォルトアイテムタイプ（フル）(1) |
| 公開日 |
2007-04-18 |
| タイトル |
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タイトル |
Characterization of electrodeposited nickel film surfaces using atomic force microscopy |
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言語 |
en |
| 作成者 |
Saitou, Masatoshi
Oshikawa, W
Makabe, A
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| アクセス権 |
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アクセス権 |
open access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
| 主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Atomic force microscopy |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Electrochemistry |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Fourier transform method |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Fractal dimension |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Nickel |
| 主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Scaling |
| 主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Surface roughness |
| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Microstructures of nickel surfaces electrodeposited on indium tin oxides coated glasses are investigated using atomic force microscopy. The fractal dimension D and Hurst exponent H of the nickel surface images are determined from a frequency analysis method proposed by Aguilar et al. [J. Microsc. 172 (1993) 233] and from Hurst rescaled range analysis. The two methods are found to give the same value of the fractal dimension D similar to 2.0. The roughness exponent a and growth exponent beta that characterize scaling behaviors of the surface growth in electrodeposition are calculated using the height-difference correlation function and interface width in Fourier space. The exponents of alpha similar to 1.0 and beta similar to 0.8 show that the surface growth does not belong to the universality classes theoretically predicted by statistical growth models. |
| 内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
論文 |
| 出版者 |
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出版者 |
Elsevier Science |
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言語 |
en |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 出版タイプ |
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出版タイプ |
AM |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa |
| 識別子 |
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識別子 |
http://hdl.handle.net/20.500.12000/398 |
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識別子タイプ |
HDL |
| 関連情報 |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.sciencedirect.com/science/journal/00223697 |
| 関連情報 |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
10.1016/S0022-3697(01)00254-2 |
| 収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0022-3697 |
| 収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00704949 |
| 収録物名 |
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収録物名 |
Journal of Physics and Chemistry of Solids |
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言語 |
en |
| 書誌情報 |
巻 63,
号 9,
p. 1685-1689,
発行日 2002-09
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15-JPhysChemSolids_v63p1685.pdf
