Item type |
デフォルトアイテムタイプ(フル)(1) |
公開日 |
2007-04-18 |
タイトル |
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タイトル |
Surface roughening in electrodeposited nickel films on ITO glasses at a low current density |
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言語 |
en |
作成者 |
Saitou, Masatoshi
Makabe, A
Tomoyose, T
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アクセス権 |
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アクセス権 |
open access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Nickel |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Electrochemical methods |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Surface roughening |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Surface morphology |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Atomic Force Microscopy |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
X-ray diffraction |
主題 |
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言語 |
en |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Electron-solid diffraction |
内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
We have studied the kinetic surface roughening of nickel films electrodeposited on ITO glasses at a low current density using atomic force microscopy (AFM), electron and X-ray diffraction. The AFM images of the nickel films exhibited the scaling relations represented by the growth exponent beta = 0.78 +/- 0.03 and the roughness exponent alpha = 0.96 +/- 0.04, which is in good agreement with the prediction by the diffusion-driven growth model. Electron and X-ray diffraction revealed a preferred growth orientation of the electrodeposited nickel films, which gives an explanation for the growth exponent beta greater than 1/2. |
内容記述 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
論文 |
出版者 |
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出版者 |
Elsevier Science B.V. |
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言語 |
en |
言語 |
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言語 |
eng |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
出版タイプ |
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出版タイプ |
AM |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa |
識別子 |
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識別子 |
http://hdl.handle.net/20.500.12000/394 |
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識別子タイプ |
HDL |
関連情報 |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.sciencedirect.com/science/journal/00396028 |
関連情報 |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
10.1016/S0039-6028(00)00551-3 |
収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0039-6028 |
収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00853803 |
収録物名 |
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収録物名 |
Surface Science |
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言語 |
en |
書誌情報 |
巻 459,
号 1-2,
p. L462-L466,
発行日 2000-07-01
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